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- TE8000 抗干扰介质损耗测试仪
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TE8000 抗干扰介质损耗测试仪 用于精密测量各种高压电气设备的绝缘介质损耗因数tgδ与电容量Cx，可鉴别电气绝缘设备污染、破裂、穿孔、受潮等引起的缺陷和隐患。适用于变压器、互感器、套管、电力电缆、电容器、绝缘子、高压开关、避雷器等设备的介质损耗和电容量测量。TE8000 抗干扰介质损耗测试仪是国内*高压电缆拖地使用对反接测试数据无影响的介损测试类仪器，并*采用了第四代抗干扰技术：“全自动反干扰源”。成功解决了普通介损测试仪现场使用抗干扰能力差、反接法测试数据不准等问题。 TE8000 抗干扰介质损耗测试仪 产品特性
(1) *采用第四代抗干扰技术“全自动反干扰源”，在保证抗干扰效果的同时测试值的等效性优于“异频法”。
(2) 国内*实现从高压插座到高压导线全绝缘的介损测试仪。高压导线不仅能直接拖地使用，而且消除了反接测试时导线泄漏电流对测试结果的影响。10kV输出时，对地无放电、无泄漏、无声响。
(3) 国内*实现接地试品和非接地试品采用相同接线，避免因不同接线方式引起的接线误差。
(4) 采用多重屏蔽系统，配合“反干扰源”和精密数学模型，仪器具有很高的测试精度，并且测试数据重复性*
(5)通过内置的JTAG在线编程接口，可实现设备在现场不拆机升级。
技术参数TE8000 抗干扰介质损耗测试仪 工作电源 电压：AC220V±10% 频率：50Hz±1Hz 使用环境 环境温度：-10℃～40℃ 相对湿度：≤80% 外形尺寸 长390mm*宽290mm*高320mm 质量 20Kg 测试工作方式 正接法 反接法 抗干扰正接法 抗干扰反接法 输出功率 1.5KVA 电容测量范围 10KV： 0～40000pF ＜5KV: 0～0.1μF 电容z·ui小分辨率 0.001pF 电容精度 正接 ±（2%读数+2pF） 反接 ±（2%读数+10pF） 介损测量范围 0～50% 介损测量精度 测试内容 电容量范围（Cx） 试品类型 基本误差 介质损耗因数tgδ 100pF～40000pF 非接地 ±（2%读数+0.0005） 接地 ±（2%读数+0.0010） 10pF～100pF或40000pF以上 非接地 ±（2%读数+0.0010） 接地 ±（2%读数+0.0020） 3pF～10pF 非接地与接地 TE8000 抗干扰介质损耗测试仪 高压测试线 .jpg)
一头为线夹，一头为高压插头，用于将高压引至被试品,采用高性能绝缘导线制成.可拖地使用.使用前请将高压插头及线夹接牢靠. 高压测试线 
一头为红、黑两只线夹，一头为航插。红色线夹接Cx，黑色线夹接屏蔽，用于取得没有干扰的测试信号。 电源线 .JPG)
黑色通用电源线，用于给仪器提供电源 接地线 
黄绿相交10米接地线，一头为金属插针，一头为夹子，用于仪器与地网连接，使仪器接地，仪器使用前，请接好地线 打印纸2卷 
打印纸，安装与打印机内，是仪器打印的必须耗材，随机符带两卷 保险管（10A）2只 
保险管，安装与仪器电源插座内或仪器面板保险盒内，防止因误操作引起的大电流损坏仪器。当仪器不能正常工作时，可检查保险管是否溶断。 测试图例 套管 带末屏的电容式套管，如装于大型变压器的电流互感器套管。 （1）测量C1采用正接法测量接线及其等值原理图如下图所示： 
（2）测量C2采用反接法，为了消除高压端对地的杂散电容，可将TE2000 屏蔽端接到C1上端，接线及其等值原理图如下图所示： 
电压互感器 （1）全绝缘式电压互感器 将高压侧及低压侧分别短路，其测量接线及其原理图如下图所示： 
全绝缘式电压互感器 （2）串级式电压互感器 采用串级式电压互感器，一般采用首端加压法。这种试品也可以采用常规方法，但试验电压为2.5KV左右。接线及其等值原理图如下图所示： 
试品 试验方法 高压 测量 屏蔽 接地 CAB 正接法 A B或B1 — — CN 反接法 A 地 B及X — CAB+CH 反接法 A 地 — B及B1 全绝缘式电压互感器 电力变压器 （1）双线圈变压器接线方法如下图所示： 
（2）三线圈变压器接线方法如下图所示： 
试品 试验方法 高压 测量 屏蔽 接地 C1 反接法 高压线圈 地 中压、低压线圈 — C2 反接法 中压线圈 地 高压、低压线圈 — C3 反接法 低压线圈 地 高压、中压线圈 — C12 正接法 高压线圈 中压线圈 — 低压线圈 C23 正接法 中压线圈 低压线圈 — 高压线圈 C13 正接法 低压线圈 高压线圈 — 中压线圈 三线圈变压器 电容器 电容式分压互感器接线图如下图所示： 
试品 试验方法 高压 测量 屏蔽 接地 C1 正接法 A B -- -- C2 反接法 A C -- 电力变压器绕组的tgδ 1)1～3年或自行规定
2)大修后
3)必要时1)20℃时tgδ不大于下列数值：
330～500kV 0.6%
66～220kV 0.8%
35kV及以下 1.5%
2)tgδ值与历年的数值比较不应有显著变化(一般不大于30%)
3)试验电压如下：
绕组电压10kV及以上 10kV
绕组电压10kV以下 Un
4)用M型试验器时试验电压自行规定1)非被试绕组应接地或屏蔽
2) 同一变压器各绕组tgδ的要求值相同
3)测量温度以顶层油温为准，尽量使每次测量的温度相近
4)尽量在油温低于50℃时测量，不同温度下的tgδ值一般可按下式换算
tgδ2=tgδ1×1.3（t2-t1)/10
式中tgδ1、tgδ2分别为温度t1、t2时的tgδ值电流互感器的tgδ及电容量 1)投运前
2)1～3年
3)大修后
4)必要时1)主绝缘tgδ(%)不应大于下表中的数值，且与历年数据比较，不应有显著变化:
2)电容型电流互感器主绝缘电容量与初始值或出厂值差别超出±5%范围时应查明原因电压等级kV 20～35 66～110 220 330～500 大修后 油纸电容型
充油型
胶纸电容型—
3.0
2.51.0
2.0
2.00.7
—
—0.6
—
—运行中 油纸电容型
充油型
胶纸电容型—
3.5
3.01.0
2.5
2.50.6
—
—0.7
—
—
3)当电容型电流互感器末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ时，应测量末屏对地tgδ，其值不大于2%1)主绝缘tgδ试验电压为10kV，末屏对地tgδ试验电压为2kV
2)油纸电容型tgδ一般不进行温度换算，当tgδ值与出厂值或上一次试验值比较有明显增长时，应综合分析tgδ与温度、电压的关系，当tgδ随温度明显变化或试验电压由10kV升到Um/√3 时，tgδ增量超过±0.3%，不应继续运行
3)固体绝缘互感器可不进行tgδ测量电磁式电压互感器的tgδ(20kV及以上) 1)绕组绝缘：
a)1～3年
b)大修后
c)必要时
2)66～220kV串级式电压互感器支架：
a)投运前
b)大修后
c)必要时1)绕组绝缘tgδ(%)不应大于下表中数值：
2)支架绝缘tgδ一般不大于6%温度℃ 5 10 20 30 40 35kV及以下 大修后 1.5 2.5 3.0 5.0 7.0 运行中 2.0 2.5 3.5 5.5 8.0 35kV以上 大修后 1.0 1.5 2.0 3.5 5.0 运行中 1.5 2.0 2.5 4.0 5.5 串级式电压互感器的tgδ试验方法建议采用末端屏蔽法，其它试验方法与要求自行规定 电容式电压互感器的中间变压器的tgδ 1)大修后
2)必要时与初始值相比不应有显著变化 SF6断路器和GIS的断口间并联电容器的绝缘电阻、电容量和tgδ 1)1～3年
2)大修后
3)必要时1)对瓷柱式断路器和断口同时测量，测得的电容值和tgδ与原始值比较，应无明显变化
2)罐式断路器(包括GIS中的SF6断路器)按制造厂规定
3)单节电容器按断路器电容器规定1)大修时，对瓷柱式断路器应测量电容器和断口并联后整体的电容值和tgδ，作为该设备的原始数据
2)对罐式断路器(包括GIS中的SF6断路器)必要时进行试验，试验方法按制造厂规定多油断路器和少油断路器40.5kV及以上非纯瓷套管和多油断路器的tgδ 1)1～3年
2)大修后1)20℃时多油断路器的非纯瓷套管的tgδ(%)值见表20
2)20℃时非纯瓷套管断路器的tgδ(%)值，可比表20中相应的tgδ(%)值增加下列数值：额定电压kV ≥126 ＜126 40.5(DW1—35DW1—35D) gδ(%)值的增加数 1 2 3 1)在分闸状态下按每支套管进行测量。测量的tgδ超过规定值或有显著增大时，必须落下油箱进行分解试验。对不能落下油箱的断路器，则应将油放出，使套管下部及灭弧室露出油面，然后进行分解试验
2)断路器大修而套管不大修时，应按套管运行中规定的相应数值增加
3)带并联电阻断路器的整体tgδ(%)可相应增加1多油断路器和少油断路器灭弧室的并联电阻值，并联电容器的电容量和tgδ 1)大修后
2)必要时1)并联电阻值应符合制造厂规定
2)并联电容器按下方高压并联电容器规定空气断路器灭弧室的并联电阻，均压电容器的电容量和tgδ 1)大修后 1)并联电阻值符合制造厂规定
2)均压电容器按断路器电容器规定套管的主绝缘及电容型套管对地末屏tgδ与电容量 1)1～3年
2)大修(包括主设备大修)后
3)必要时1)20℃时的tgδ(%)值应不大于下表中数值：
2)当电容型套管末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ时，应测量末屏对地tgδ，其值不大于2%电压等级kV
20～35 66～110 220～500 大修后 充油型 3.0 1.5 — 油纸电容型 1.0 1.0 0.8 充胶型 3.0 2.0 — 胶纸电容型 2.0 1.5 1.0 胶纸型 2.5 2.0 — 运行中 充油型 3.5 1.5 — 油纸电容型 1.0 1.0 0.8 充胶型 3.5 2.0 — 胶纸电容型 3.0 1.5 1.0 胶纸型 3.5 2.0 —
3)电容型套管的电容值与出厂值或上一次试验值的差别超出±5%时，应查明原因1)油纸电容型套管的tgδ一般不进行温度换算，当tgδ与出厂值或上一次测试值比较有明显增长或接近左表数值时，应综合分析tgδ与温度、电压的关系。当tgδ随温度增加明显增大或试验电压由10kV升到Um/√3 时，tgδ增量超过±0.3%，不应继续运行
2)20kV以下纯瓷套管及与变压器油连通的油压式套管不测tgδ
3)测量变压器套管tgδ时，与被试套管相连的所有绕组端子连在一起加压，其余绕组端子均接地，末屏接电桥，正接线测量高压并联电容器、串联电容器和交流滤波电容器的电容值 1)投运后1年内
2)1～5年1)电容值偏差不超出额定值的-5%～+10%范围
2)电容值不应小于出厂值的95%用电桥法或电流电压法测量 耦合电容器和电容式电压互感器的电容分压器的tgδ 1)投运后1年内
2)1～3年10kV下的tgδ值不大于下列数值：
油纸绝缘 0.005
膜纸复合绝缘 0.0021)当tgδ值不符合要求时，可在额定电压下复测，复测值如符合10kV下的要求，可继续投运
2)电容式电压互感器低压电容的试验电压值自定断路器电容器的电容值 1)1～3年
2)断路器大修后电容值偏差应在额定值的±5%范围内 用电桥法 断路器电容器的tgδ 1)1～3年
2)断路器大修后10kV下的tgδ值不大于下列数值：
油纸绝缘 0.005
膜纸复合绝缘 0.0025集合式电容器的电容值 1)投运后1年内
2)1～5年
3)吊芯修理后1)每相电容值偏差应在额定值的-5%～+10%的范围内，且电容值不小于出厂值 的96%
2)三相中每两线路端子间测得的电容值的z·ui大值与z·ui小值之比不大于1.06
3)每相用三个套管引出的电容器组，应测量每两个套管之间的电容量，其值与出厂值相差在±5%范围内串联电抗器的绕组tgδ 1)大修后
2)必要时20℃下的tgδ(%)值不大于：
35kV及以下 3.5
66kV 2.5仅对800kvar以上的油浸铁芯电抗器进行 放电线圈的绕组的tgδ 1)大修后
2)必要时参照电磁式电压互感器 同步发电机、调相机定子绕组沥青云母和烘卷云母绝缘老化鉴定试验项目和要求 整相绕组(或分支)及单根线棒的tgδ增量(Δtgδ) 1)主绝缘tgδ(%)不应大于下表中的数值，且与历年数据比较，不应有显著变化：
Δtgδ(%)值指额定电压下和起始游离电压下tgδ(%)之差值。对于6kV及10kV电压等级，起始游离电压分别取3kV和4kV定子电压等级kV Δtgδ% 6 6.5 10 6.5
2)定子电压为6kV和10kV的单根线棒在两个不同电压下的Δtgδ(%)值不大于下列值：
凡现场条件具备者，z·ui高试验电压可选择1.5Un；否则也可选择(0.8～1.0)Un。相邻0.2Un电压间隔值，即指1.0Un和0.8Un、0.8Un和0.6Un，0.6Un和0.4Un、0.4Un和0.2Un1.5Un和0.5Un 相邻0.2Un电压间隔; 0.8Un和0.2Un 11 2.5 3.5 1)在绝缘不受潮的状态下进行试验
2)槽外测量单根线棒tgδ时，线棒两端应加屏蔽环
3)可在环境温度下试验